欢迎访问北京东方科泰科技发展有限公司官方网站!客户对每件产品的放心和满意是我们一生的追求,用我们的努力,解决您的烦恼!                                                                                            返回首页|在线留言联系我们
全国咨询热线
010-51294988
P
产品分类
Product categories
焦平面芯片测试平台
    发布时间: 2021-10-12 17:23    
焦平面芯片测试平台

焦平面芯片测试平台

被测试芯片数量:≥9只

被测芯片视场:≥F/1锥角或定制

被测芯片边缘效应:≤10%

照明源温度范围:-40C到+100C

温度准确度:± 0.010℃(0

温度稳定度(σ):≤0.001℃(0 to 50℃),else≤0.002℃

表面发射率(标准):< 0.970 (3-5.5μm),>0.950(8-14μm)

高发射率选项:<0.998 (3-5.5μm),>0.995 (8-14μm)

温度分辩率:0.001℃

温度控制:TEC,闭环控制

背板冷却:外部制冷机液体冷却

环境温度控制源(8”x8”)

温度范围:-30C到+75C

温度准确度:±0.010℃(0

温度稳定度(σ):≤0.001℃(0 to 50℃),else≤0.002℃

温度分辩率:0.001℃

温度控制:TEC,闭环控制,背板冷却:外部制冷机液体冷却

留言获取产品详细资料。我们将在24小时内给予答复。个人信息我们将严格保密。注:下表*部分为必填项
  • 姓名*
  • 电话*
  • 单位名称*
  • 产品名称型号*
  • 留言*
  • 电子邮件*
提交