欢迎访问北京东方科泰科技发展有限公司官方网站!客户对每件产品的放心和满意是我们一生的追求,用我们的努力,解决您的烦恼!
Banner
首页 > 公司产品 > 美国圣巴巴拉红外公司(SBIR) > 焦平面探测器光电测试平台
焦平面芯片测试平台

焦平面芯片测试平台

产品详情

焦平面芯片测试平台

被测试芯片数量:≥9只

被测芯片视场:≥F/1锥角或定制

被测芯片边缘效应:≤10%

照明源温度范围:-40C到+100C

温度准确度:± 0.010℃(0<T<50℃),else ±0.0005(T-25)℃

温度稳定度(σ):≤0.001℃(0 to 50℃),else≤0.002℃

表面发射率(标准):< 0.970 (3-5.5μm),>0.950(8-14μm)

高发射率选项:<0.998 (3-5.5μm),>0.995 (8-14μm)

温度分辩率:0.001℃

温度控制:TEC,闭环控制

背板冷却:外部制冷机液体冷却

环境温度控制源(8”x8”)

温度范围:-30C到+75C

温度准确度:±0.010℃(0<T<50℃), else ±0.0005(T-25)℃

温度稳定度(σ):≤0.001℃(0 to 50℃),else≤0.002℃

温度分辩率:0.001℃

温度控制:TEC,闭环控制,背板冷却:外部制冷机液体冷却

 

询盘