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制造商网站链接处 英国安道尔公司Andor Technology LTD

 

           

   CCD二维微光光谱和成像测量系统                    前照射CCD探测器量子效率曲线

            

结构设计紧凑                                                        

光谱覆盖范围可以从硬X射线到近红外波段

量子效率:>90%(减薄背照芯片)或50%

 (前照射芯片)

先进的热电制冷技术使CCD芯片工作温

   度达到-90度,暗电

   流仅为1e/小时,可以取代液氮制冷CCD                 

多种格式CCD芯片可以满足光谱测量和

   图象测量等不同需要

军用真空密封技术CCD探头具有5年真                        背照射CCD探测器量子效率曲线

   空度保证                                           

单窗设计使入射光信号损失降低到最小                                           

强劲的RISC微电脑控制和高密度电子器                        

   件使功能完善的系统控制器全部做在一块                        

   计算机插卡上                                   

匹配多种成像光谱仪、F接圈或C接圈镜头     

主要应用:近红外/可见/紫外拉曼光谱;X 射线成像与光谱检测 生物和医学显微成像;

天文观测成像与光谱测量

                    

                 

ICCD二维瞬态光谱和成像测量系统                              ICCD量子效率曲线

                                                                                        

先进的密封技术,无需使用气体冲刷即可防    

   止结露                                                                 

内置的高压脉冲发生器,TTL脉冲即可触发探

   头工作        

小于1.5ns的光门宽度,25KHz重复频率

Intelligate门控MCP,使UV谱段关段比大于107

光纤耦合或镜头耦合像增强器,分辨率优于35 mm

软件控制工作模式和像增强器增益,操作更方便                         

大于1000计数/光子的增益,满足单光子检测的              激光诱导荧光光谱探测系统  

   需要并设置有光子计数工作模式                                

内置脉冲延迟发生器,使系统固有延迟减小到

   最低                                                                                  

最低制冷温度-45度,控温由软件设置                            

18mm或25mm直径像增强器                                               

S20/S25各种涂层光阴极,P43/P46荧光板

主要应用:燃烧及爆炸研究、激光诱导荧光分解光谱、等离子体研究、时间分辨拉曼光谱、微光

          显微成像等

 

                              

     EMCCD                               IKON                             iStar

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